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test_cap
- 自动检测电容值，硬件电路简单，测试速度快
c51源程序集合
- 源码 │ 0108_12864LCD-F149.ASM │ 12232-1520.c │ 12232.c │ 12864-ks0108.asm │ 12864-ST7290-F149.C │ 12864-zb.c │ 12887.c │ 24C01-64.C │ 24C01-F440.C │ 28sf040a.asm │ 51use.txt │ 6963.C │ 93c46.asm │ 93c46.c │ 93cxx.c │ ad7416-mcuzb.c │ ad7416.c │ AT24C01
RLC
- 本文所设计的系统是基于AT89C52单片机控制的简易RLC测试仪。为了充分利用单片机的运算和控制功能，方便的实现测量。把参数R、L、C转换成频率信号f，然后用单片机计数后再运算求出R、L、C的值，并送显示。 转换的原理分别是RC振荡电路和电容三点式振荡电路。为了比较准确的测试而频率的计数则是利用等精度数字频率计完成。然后再将结果送单片机运算，并在LED显示器上显示所测得的数值。通过一系列的系统调试，本测试仪到达了测试标准。经过测试， -In this paper, the system d
LC_Meterrar
- 基于51单片机制作的高精度电感电容表。误差1-2‰ 步进0.04pF 步进0.04uH 测量范围：可测试电容、电感。 电容量程：5pF-1uF（不能测试有极性的电容，电解、钽电容均不可。） 电感量程：0.05uH-500H-Precision inductance capacitance meter
Capacitor_Voltage_test
- 控制吉时利公司的CV590设备，来测试半导体器件以及分立器件的电容及电导程序及算法。-control CV590 intruments to measure capacitor and conductor of wafer or capacitor.
Reliablity_ramp
- 实现了Jedec标准中对超薄膜氧化层的MOS电容的Time-zero可靠性测试方法。可直接用于半导体器件可靠性测试中-a realization of Time-zero dilectric breakdown according to Jedec standard,which can use to achieve reliability of wafer
pcb89S52
- 强！自制电容表的源程序和PCB图,很多贴片电容都没有标明电容值，而我又舍不得扔了它们；自己做电路玩时，经常看到一些废电路板上有很多贴片电容，可以拆下来用，但是却看不到容量，很郁闷。所以我决定做一个电容表来测试它们的容量。 我用单片机8952和电压比较器339做了一个简单的电容容量测量表，参数大致如下： 电容测量范围为1pF-9999.99uF，最小分辨力为1pF。分为5个量程，可以自动切换量程，也可手动切换。 另外，有简单的频率计功能，能测量0-60MHz的数字信号频率（TTL电平）；还可以产生
dianrong
- 由单片机计数思路设计的简易电容计测试程序（适用于总线式思路设计的单片机硬件电路）-Thinking Design from the SCM count simple capacitance meter testing procedures (for bus-thinking design of the microcontroller hardware)
campturetestandLCD
- 测试电容容量加protues仿真，方案比较简单不能测试小电容-doifjawerogerjhgherhtjh
PLCkongzhixitong
- PIC控制系统包涵盖了大量的开发性论文，包括PLC控制系统的可靠性设计、八层电梯PLC控制系统及组态设计、基于PLC控制技术的电容测试分选机等实用性论文，希望对大家能有所帮助。-PIC control system covers a large number of development packages of papers, including the reliability of PLC control system design, PLC control system and the ei
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- 电容测试仪51单片机程序，测试电容容量值法拉-51 single-chip capacitor tester program to test the value of Farah capacitance
zobele001
- 一款测试电容和光电流的程序,本程序已经在工业应用中批量使用-to test the current and cap
digitalQ_table
- 设计制作一个数字式Q表，能测试电容的D值、电感的Q值，及它们的阻抗，能测试任意二端无源网络的Q值、阻抗-Low frequency digital Q table design
TFTLCD电容触摸屏模块
- STM32 TFT 开发功能源码 ， 已经测试过 ，可已使用。(STM32 TFT development function source code, has been tested, can be used.)
touch panel
- Touch Panel 电容触摸屏基本知识(Touch Panel The recommendation of the relative position design for housing,Touch Panel and LCD The New transparent capa. TP is for Handset device application. Conventional capa.)
70_WV_RGB24bit_C8051F(CTP)
- 简易的电容触摸屏测试程序，使用敦泰IC，8051平台，简单易懂(A simple capacitive touch screen test procedures used Duntai IC 8051 platform, easy to understand)
PIC12F1822测试电容_2PNP电流源
- PIC16F1822检测电容，采用了2PNP镜像电流源，精度1pF.(PIC16F1822 detection capacitor, the use of 2PNP mirror current source, accuracy 1pF.)
电容测试程序
- 基于555多协震荡器和单片机的电容测试程序(Capacitance testing program)
电容数据采集(2214)
- FDC2214电容读取，STM32例程，经测试可用(FDC2214 capacitor read, STM32 routines, tested and available)
TEST_HS1101
- 使用STC8芯片的12位精度ADC功能，测试温湿度；湿度芯片采用HS1101湿敏电容，温度使用DS18B20数字传感器，已经编译通过。(The 12-bit ADC function of STC8 chip is used to test temperature and humidity. The humidity chip uses HS1101 humidity-sensitive capacitor, and the temperature uses DS18B20 digital se