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搜索资源列表

  1. 44B0TESTlcd

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  2. 44B0TESTlcd 是 sharp lm64p70,lm64p72配合sw44b0x的综合测试程序。对开发液晶驱动程序有重要参考意义。
  3. 所属分类:微处理器(ARM/PowerPC等)

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:303.97kb
    • 提供者:wangsir
  1. newlcdkey

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  2. newlcdkey 是 240*320 黑白(16级灰度)的液晶带键盘配合sw44b0x的综合测试程序。对32位微处理器液晶驱动开发有一定参考价值。
  3. 所属分类:微处理器(ARM/PowerPC等)

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:75.04kb
    • 提供者:wangsir
  1. sw44b0_key_LCD_driver

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  2. 简易彩色液晶键盘是带键盘的320*240 彩色液晶配合sw44b0综合测试程序。对于开发液晶键盘交互界面的驱动程序具有一定参考价值。
  3. 所属分类:微处理器(ARM/PowerPC等)

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:196.72kb
    • 提供者:wangsir
  1. epson1147

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  2. epson1147 是 240*320 黑白(16级灰度)的液晶配合sw44b0综合测试程序(附送液晶字模提取小程序),用于对32位微处理器相关液晶程序的开发。
  3. 所属分类:微处理器(ARM/PowerPC等)

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:465.61kb
    • 提供者:wangsir
  1. yijingceshi

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  2. 三星的44B0液晶测试程序 44B0TESTlcd 是 sharp lm64p70 , lm64p72 的综合测试程序。 简易彩色液晶键盘 是带键盘的320*240 彩色液晶综合测试程序 (附 有机玻璃座) epson1147 是 240*320 黑白(16级灰度)的液晶综合测试程序
  3. 所属分类:单片机(51,AVR,MSP430等)

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:7.48mb
    • 提供者:dingfuqing
  1. SignalAcquisitionSystemDesignandImplementation

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  2. 随着社会的发展和科学技术的进步,现代社会对测量仪器的需 求越来越广,对仪器的性能要求也越来越高。在迅速发展的集成电 路技术和计算机技术的推动下,测量仪器也正发生巨大的变化。以 虚拟仪器为代表的新型测量仪器改变了传统仪器的思想,它们充分 利用计算机强大的软硬件功能,把计算机技术和测量技术紧密结合 起来。特别是基于计算机平台的各种测量仪器由于成本低、使用方 便等优点得到了更广泛的应用,在计算机普及率比较高的高等院校, 这种测量仪器对教学和科研都有重要的使用价值。 本文
  3. 所属分类:VHDL编程

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:2.28mb
    • 提供者:hjh
  1. S3C44B0X综合测试代码

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  2. 4.0版综合测试实验,包括了LCD,LED,IIC,等很多功能的测试
  3. 所属分类:嵌入式/单片机编程

    • 发布日期:2009-04-22
    • 文件大小:440.11kb
    • 提供者:wxwg8791@13.com
  1. ad9777的测试程序,对SPI进行初始化,运用ISE环境,成功地进行综合和实现.rar

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  2. ad9777的测试程序,对SPI进行初始化,运用ISE环境,成功地进行综合和实现
  3. 所属分类:VHDL编程

    • 发布日期:2011-01-04
    • 文件大小:2.54mb
    • 提供者:Ariesl
  1. zigbee

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  2. CC2430多功能综合测试程序,zigbee协议下的通信开发源码-CC2430 multi-purpose integrated test procedures, zigbee communication protocol developed under the code
  3. 所属分类:ARM-PowerPC-ColdFire-MIPS

    • 发布日期:2017-03-31
    • 文件大小:556.33kb
    • 提供者:汪颜
  1. Verilog--shiyanbaogao

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  2. 有实验结果,用MOSIN6编写的,是Verilog HDL语言实现的. 练习三 利用条件语句实现计数分频时序电路 实验目的: 1. 掌握条件语句在简单时序模块设计中的使用; 2. 学习在Verilog模块中应用计数器; 3. 学习测试模块的编写、综合和不同层次的仿真。 练习四 阻塞赋值与非阻塞赋值的区别 实验目的: 1. 通过实验,掌握阻塞赋值与非阻塞赋值的概念和区别; 2. 了解阻塞赋值与非阻塞赋值的不同使用场合; 3. 学习测试模块的编写、综合和不同层
  3. 所属分类:VHDL-FPGA-Verilog

    • 发布日期:2017-03-29
    • 文件大小:15.56kb
    • 提供者:盼盼
  1. TEST_RVMDK

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  2. 本示例程序是STM32的一个综合测试程序,主要演示了GPIO、TIMER、NVIC、UART等功能-STM32 this example program is a comprehensive test procedure, the main demonstration of the GPIO, TIMER, NVIC, UART functions
  3. 所属分类:SCM

    • 发布日期:2017-03-29
    • 文件大小:149.31kb
    • 提供者:杨尚元
  1. c51

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  2. 51单片机,USB,触摸,TFT,的等综合应用,高级别。(usb+flash+touch+tft+ram综合测试)-51 single-chip, USB, Touch, TFT, integrated applications (usb+ flash+ touch+ tft+ ram General Test)
  3. 所属分类:Embeded-SCM Develop

    • 发布日期:2015-03-21
    • 文件大小:1.44mb
    • 提供者:程明
  1. TX-1C

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  2. 本程序为实验板的总体测试程序,综合测试了整个实验板上的绝大多数功能,下载程序后会依次看到以下5种状态。 1.8个流水灯先会从上到下流动一遍,同时蜂鸣器发声。 2.接着DAC电流指示灯由暗变亮 3.接着前三位数码管显示温度值 4.接着AD数值显示在数码管的前三位 5.接着等待矩阵键盘的按下,按下后相应的数码显示在数码管的后三位上-This procedure for the experiment board' s overall test program, a compr
  3. 所属分类:Embeded-SCM Develop

    • 发布日期:2017-03-23
    • 文件大小:26.16kb
    • 提供者:苟超
  1. zigbee

    0下载:
  2. zigbee无线通信点对点综合测试的源代码-zigbee wireless communications point-source code for a comprehensive test
  3. 所属分类:SCM

    • 发布日期:2017-04-16
    • 文件大小:436.35kb
    • 提供者:zhuyonghao
  1. zhcs

    0下载:
  2. 飞思卡尔汽车LIN总线解决方案实例源代码-综合测试-Freescale s automobile LIN Solutions example source code
  3. 所属分类:SCM

    • 发布日期:2017-03-23
    • 文件大小:607.63kb
    • 提供者:asasa
  1. STM32综合测试实验-HX8357C-D彩屏

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  2. STM32综合测试实验-HX8357C-D彩屏程序(STM32-HX8357C-D code)
  3. 所属分类:嵌入式/单片机编程

    • 发布日期:2017-12-19
    • 文件大小:1.43mb
    • 提供者:Dsin.tech
  1. C51综合测试程序_240X320_ILI9325

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  2. C51综合测试程序_240X320_ILI9325,很好用的,测试2.4寸屏。带触摸的。(C51 comprehensive testing procedures _240X320_ILI9325, very good, test 2.4 inch screen. With touch)
  3. 所属分类:嵌入式/单片机编程

    • 发布日期:2017-12-28
    • 文件大小:177kb
    • 提供者:zhuijian7
  1. PPM采集和综合测试程序

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  2. PPM信号的采集以及 综合测试程序.zip(PPM acquisition and integration test program.Zip)
  3. 所属分类:VHDL/FPGA/Verilog

    • 发布日期:2017-12-20
    • 文件大小:1.09mb
    • 提供者:bsxq
  1. 综合测试(要求大于16K ROM的单片机)

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  2. 1.44T显示屏测试文件,st7735s的51单片机测试程序(1.44T display test file)
  3. 所属分类:单片机开发

    • 发布日期:2018-05-01
    • 文件大小:131kb
    • 提供者:徐世晖
  1. stm32-综合测试实验

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  2. STM32综合测试程序,包括对触摸屏的操作、数字通信、以及按键实验内存读取实验等等。(stm32Comprehensive test procedures, including touch screen operation, digital communications, and keystroke memory read experiments, etc.)
  3. 所属分类:单片机开发

    • 发布日期:2018-05-03
    • 文件大小:40.09mb
    • 提供者:剑气长
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