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  1. atalanta

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  2. 基于stack-at fault的超大规模数字集成电路自动测试向量生成算法（ATPG）。输入.bench格式，输出测试向量。-Automatic test pattern generation (ATPG) algorithm for VLSI circuits

  3. 所属分类：SCM

    • 发布日期：2017-03-28
    • 文件大小：232.24kb
    • 提供者：Roger
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