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SDTest
- WinCE环境下检测SD卡序列号，编程环境： eVC4.0 + PPC2003。 文件清单： newres.h ReadMe.txt Resource.h SDTest.aps SDTest.cpp SDTest.h SDTest.rc SDTest.vcc SDTest.vcl SDTest.vcp SDTestDlg.cpp SDTestDlg.h StdAfx.cpp StdAfx.h-WinCE environment Se
PCF8576.rar
- 用于测试笔段的LCD屏，可以测试静态的，1/2duty，1/3duty，1/4duty，可以更改bias,T paragraph for testing LCD screen, you can test static, 1/2duty, 1/3duty, 1/4duty, you can change the bias
HT0610
- 笔段型TN LCM测试，使用51测试平台就可以了，很简单-T TN LCM test segment, the use of 51 test platform can be a very simple
Investigationintoparametersofgratingscanningspectr
- 光栅扫描光谱仪的入射光线和出射光线的方向是固定的, 在光栅转动下进行分光, 这与 光栅不动而入射光方向改变的分光方法不同。由光栅方程出发, 计算出电脑自动控制多光栅转动 的光谱仪测试系统的角色散率、 线色散率和分辨本领, 得出光栅扫描光谱仪的角色散率、 线色散率 和分辨本领等参数公式。所得结果与光栅不动而入射光方向改变的光谱仪的角色散率、 线色散率 和分辨本领不同。这为光栅扫描光谱仪的使用和研究提供了理论依据-The grat ing scann ing spect romete
Multisim
- 学好《电子线路》这门课程,不仅需要有扎实的电路分析和信号与系统等专业基础知识,还需要在学习过 程中加入单元或系统电路的实验环节,这样才能完成整个电路的设计。介绍如何在电路的理论设计基础之上,以 Multisim X 这一仿真软件为实验平台,仿照硬件环境来完成电路的最终设计的。-Abstract :To obtain a good knowledge of the“elect ronic circuit”curriculum it needs to have the basic cours
Digital_temperature
- 任务：设计并制作一个以单片机为核心的温度测控系统 设计要求： ①. 被测温度范围为0—100℃。温度测量误差范围小于5℃，能进行当前环境温度调校。 ②. 测试问题通过4位LED数码管显示。 ③. 温度下限 L为30℃，上限 H为50℃。当温度≥50℃时，模拟发光二极管全亮。当温度≤30℃时，模拟发光二极管全灭。当30℃≤温度≤50℃时，输出占空比=（H-t）/（H-L）。 ④. 发挥部分：可按键设定温度下限值和上限值。 -Task: Design and producti
51MCU-UART-R-T
- 51单片机发送接收子程序。具有应答测试、数据块发送、接收，校验和比对，错误重发功能。-51 MCU send and receive routines. With the response test, the data blocks to send, receive, check and compare the error retransmission function.
key
- 当按键每按下一次，学会检测按键，按键每按下一次，8个小灯亮灭交替一次-When pressing the button every time, learn test button, press the button each time, 8 hours a turn off lights 朗读显示对应的拉丁字符的拼音 字典- 查看字典详细内容 可翻译 50 多种语言س ل ح ف ا ة dětiPardon ??πα
NOKIA5110
- 代码测试环境:JME-2 核心板+1T 指令周期的STC 单片机（51 内核 STC12LE5A60S2)+33M 晶振 单片机工作电压3.3V-Code test environment: JME-2 core board+1 T STC microcontroller instruction cycles (51 core STC12LE5A60S2)+33 M crystal operating voltage 3.3V MCU
Board-Test
- Board LED test for C805F020 you can test this program in the Cygnal IDE connected to the C8051F020 development board. You won’t see anything happening on the board, but you can step through the program using the debugger.
43iprj
- keil C51非阻塞式串口通信 本程序适用于学习交流，对读入一个字节（不带回车）读入一个字符串带回车，发送字符串函数测试成功。 本程序可以连续收发字符串，而不会发生字符串输出错误的问题。并添加了字符串比对函数（大小写不敏感）， 输入So2，自动回复success，比对成功。 所以本程序使用中断，非堵塞方式发送接受，缺点是占用一些内存，缓冲区大小可自由配置。 如果发现BUG请发送邮件到：我的邮箱：bjzll520@foxmail.com 本程序改编自BL
STM32--Color-TFT--SD-
- TFT彩屏和SD卡实例，本人测试通过，完美运行-TFT彩屏和SD卡实例，本人测试通过，完美运行！！ 您是不是要找： STM32开发板上的AD模块的源代码,必备资料!! 允许输入拉丁字符的拼音请键入文字或网站地址，或者上传文档。 取消 TFT cǎi píng hé SD kǎ shílì, běnrén cèshì tōngguò, wánměi yùnxíng! !将中文译成英语 英语中文(简体)日语TFT color screen and SD card instance
D
- 基于光纤传感器的石油井下压力测试仪的设计-Perforation and fracture is a key technology in the process of oil exploration and development, perforation and fracture instantaneous dynamic pressure parameters provide a theoretical basis for evaluating of perforating and frac
D2
- 射孔、压裂是石油勘探与开发过程中的一项关键技术，射孔、压裂瞬间动态压力参数为评价射孔施工效果，深化射孔、压裂工艺机理研究，新的射孔、压裂产品研发等提供理论依据。为了测取射孔、压裂过程中动态压力信号，研制了一种适用于石油井下恶劣环境中的动态压力测试仪（P～t仪），-or harsh environment of the oil down-hole, and capture the dynamic pressure signal successfully in perforation and fr
T-TEST
- 通过单片机来测试温度，采集温度传感器器上的AD通过运算显示在1602上-Through the microcontroller to test the temperature, the temperature sensor s acquisition by computing display in 1602 AD on
dianzhen
- 点阵测试程序，可用，可以修改成自己的东西，欢迎下载，不喜勿喷。-Lattice test program, available and can be modified into their own things, welcome to download, don t like do not spray.
TG132-PHY-API
- 手机芯片TG132内部编码，使用智能卡通信协议7816-3通信，官方例程，测试通过，可用。-翻译 手机芯片TG132内部编码，使用智能卡通信协议7816-3通信，官方例程，测试通过，可用。 45/5000 Shǒujī xīnpiàn TG132 nèibù biānmǎ, shǐyòng zhìnéngkǎ tōngxìn xiéyì 7816-3 tōngxìn, guānfāng lì chéng, cèshì tōngguò, kěyòng. Mobile