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testMemory
- how to test memory devices to see if they are working properly, and how to use Flash memory.
Flash存储器W25X16,W25X32,W25X64读写擦除程序
- 大容量Flash存储器W25X16,W25X32,W25X64读写擦除程序，在SST单片机上测试通过，使用了SST单片机的硬件SPI功能；也可以使用虚拟SPI的方法，在SST和STC单片机上测试通过。-Large-capacity Flash memory W25X16, W25X32, W25X64 erasable read-write procedure, SST Singlechip test is passed, the use of SST Single-chip hardware
memtest
- detailed memory test for embedded systems, checks for shorted address/data lines t-detailed memory test for embedded systems, checks for shorted address/data lines too
MCUSimilate_1.2
- 一个用于单片机内运行的微内核，有像ucOS样的基于优先级的任务调度。但是没有使用其实时抢夺，我是等待一个高任务级运行完了才等到其他的任务运行。当前任务不可抢夺。这样就不用考虑到任务切换带来的损耗了。还有我用了一个内存分配机制，可以动态分配和释放内存块。这些都是在VC6.0上的测试示例，但使用者可以用到任意一款单片机开发上面。所有代码都在VC6.0和XC2287M上测试过了。-One for the microcontroller to run the micro-kernel, there is
Coded-lock
- 程序功能： 本程序结合了24C02存储器的存储功能，可以掉电保存密码。第一次运行时，若输入000000原始密码后无反应，可以试验着将主程序中前面的一小段被注释线屏蔽的程序前的注释线删掉，然后重新编译下载（可以将密码还原为000000）。此后，再将这小段程序屏蔽掉，再编译下载。方可正常使用。1、开锁：下载程序后，直接按六次S7（即代表数字1），8位LED亮，锁被打开，输入密码时， 六位数码管依次显示小横杠。2、更改密码：只有当开锁（LED亮）后，该功能方可使用。首先按下更改密码键S16，然后设置相
VMD642_flash
- FLASH 测试 VMD642 开发板上的 flash 芯片为 Spansion 本例程在 VMD642_flash 目录中。 FLASH 的测试主要包括 FLASH 的擦除和读/写操作，以及其在存储空间中的映射是否 正确。 首先配置 EMIF，使得 FLASH的 8 个 512K空间映射到 DM642的存储空间中。 擦除 FLASH 的 8 个页面。 VMD642_rset(VMD642_FLASHPAGE, page) 设置当前页面。 在 VM
TF-memory-card-read-and-write-test
- 基于STM32核心芯片的TF存储卡读写实验-Based on the STM32 experiment TF memory card reader
SD-CARD
- 该程序实现在MINISTM32板子上对SD内存卡里面内容的读取，测试效果不错。-The program implemented on board MINISTM32 read the contents of the SD memory card inside, the test results are good.
NAND01GR3B_VH1
- 存储器verilog仿真代码，可以产生仿真向量对存储器测试。flash存储器选用march算法进行仿真测试。-Memory Verilog simulation code, you can generate simulation vector on the memory test. Flash memory selection of March algorithm simulation test.