Jd=diffusion(J,method,N,K) J :待扩散的原图像 method : lin : 线性扩散 (常数 c=1). pm1 : perona-malik, c=exp{-(|grad(J)|/K)^2} pm2 : perona-malik, c=1/{1+(|grad(J)|/K)^2} rmp : 复数 K :边缘门限参数 N :迭代次数 dt:时间步长 (0 < dt <= 0.25, 缺省值为0.2)

为了能有效解决H ough 变换的计算量大的问题，文中提出了一种基于直线局部结构特征的H ough 变换改进的直 线检测算法。该算法根据F reem an 准则分析了直线上基元的特征信息，通过图像上邻近的同类基元的倾斜角约束基元上 像素点的极角范围，减少每个点的计算次数，在保持精度的同时，提高直线检测的速度，在有噪声的情况下，该算法相对标 准H ough 变换算法可以提高到6 到7 倍。 -In o rder to effectively solve the pro blem o