微电子专业试验中关于突变结和非突变结的确定雪崩倍增因子外加随外加反偏电压的变化关系。-Abrupt junction and non-abrupt junction Microelectronics test to determine the avalanche multiplication factor plus the applied reverse bias voltage variation.

算法设计与分析PPT，西北工业大学，软件与微电子学院，陆伟。-Design and Analysis of Algorithms PPT, Northwestern Polytechnical University, School of Software and Microelectronics, Lu Wei.

多功能的符号OBDD软件包的头文件。功能强大。研究微电子和BDD ZDD ADD 都需要 科罗拉多大学的开源项目 已经编译过有pdf文件的 再使用时候最好清理一下重新编译-Multifunctional symbol OBDD package headers. Powerful. Microelectronics research and BDD ZDD ADD need an open source project of the University of Colorado have