获得Labview 子VI前面板控件值的方法-Method to obtain the VI front panel data

本文介绍一种基于NI LabVIEW和北京君合泰科技有限公司U18数据采集卡的晶体管特性测试仪的设计方法，内容包含循环扫描数据采集、回扫消隐、多曲线显示、传输系数计算、被测硬件电路设计等，并给出详细的前面板图和程序框图以及三极管、MOS管、光电耦合器等部分器件的特性曲线测试例子-This paper introduces a design method of transistor characteristic tester based on NI LabVIEW and Beijing Jun

主程序通过子面板调用子程序，子面板的使用方法。(The main program calls subroutine through the sub panel, and the method of using the sub panel)