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搜索资源列表

  1. NRS4000_cpu

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  2. 现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体,以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器PLA和微程序ROM以及采用内嵌RAM结构的指令Cache和寄存器堆的内建自测试设计。仿真结果表明,这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。-modern microproces
  3. 所属分类:行业发展研究

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:40.33kb
    • 提供者:chengp
  1. DS1721

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  2. 基于IIC总线的温度传感器芯片datasheet,适合远程测试设备温度-Based on the IIC bus temperature sensor chip datasheet, suitable for remote temperature test equipment
  3. 所属分类:软件工程

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:193.61kb
    • 提供者:wanghg
  1. MC145159PLL

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  2. 基于MC145159的PLL频率合成器设计与实现 介绍了锁相环路频率合成器的基本原理,分析了集成锁相环芯片M C 145159的工作特性,给出了集成锁相环芯片M C 145159的一个应用实例,为高频频率合成器的设计提供了一个较好的思路.测试结果证明了设计的合理性与实用性,系统频率稳定度优于10-7.-MC145159 PLL frequency synthesizer design and realization of PLL frequency synthesizer the basic
  3. 所属分类:软件工程

    • 发布日期:2014-01-15
    • 文件大小:187.82kb
    • 提供者:liming
  1. shuzhizhong_kechengsheji

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  2. 中南大学数字电子技术课程设计--数字钟的设计 一.设计目的 1. 进一步掌握各芯片的逻辑功能及使用方法。 2. 进一步掌握数字钟的设计方法和和计数器相互级联的方法。 3. 进一步掌握数字系统的设计和数字系统功能的测试方法。 4. 进一步掌握数字系统的制作和布线方法。 二.设计要求 1.设计指标  数字钟具有显示时、分、秒的功能;  有校时功能,可以分别对时及分进行单独校时,使其校正到标准时间;  计时过程具有
  3. 所属分类:软件工程

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:156.45kb
    • 提供者:thocr
  1. C51单片机 入门好教程1

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  2. 这是一本关于 Intel 80C51 以及广大的 51 系列单片机的书 这本书介绍给读者一些 新的技术 使你的 8051 工程和开发过程变得简单 请注意 这本书的目的可不是教你各种 8051 嵌入式系统的解决方法 为使问题讨论更加清晰 在适当的地方给出了程序代码 我们以讨论项目的方法来说 明每章碰到的问题 所有的代码都可在附带的光盘上找到 你必须熟系 C 和 8051 汇编 因 为本书不是一本 C和汇编的指导书 你可以买到不少关于 ANSI
  3. 所属分类:编程文档

    • 发布日期:2009-07-09
    • 文件大小:929.65kb
    • 提供者:huolingyi
  1. FPGA调试工具chipscope

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  2. Chipscope是XILINX推出的一款在线调试软件,价格便宜,通过它完全可以脱离传统逻辑分析仪(太贵)来调时序,观察FPGA内部的任何信号,触发条件、数据宽度和深度等的设置也非常方便,但是肯定也存在不足,比如速度和数据量方面。Chipscope本身是一个逻辑分析仪,主要用于在上板测试过程中采集并观察芯片内部信号,以便于调试。
  3. 所属分类:编程文档

    • 发布日期:2011-05-24
    • 文件大小:925.33kb
    • 提供者:lanpad
  1. 一种节约面积的可编程存储器内建自测试设计方法

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  2. 随着深亚微米技术不断的发展,在SoC 设计中存储器需求越来越大,芯片的量产需要有效率而又 具有相对的低成本的测试方法。可编程存储器内建自测试方法基于客制化的控制器,提供了一定程度可 靠的弹性以及所需合理的硬件成本。我们在本文提出了一个P-MBIST 设计的硬件分享架构,经由分享共 用的地址产生器与控制器,P-MBIST 电路的面积开销能够大幅减小,利用加入的两级流水线能够达到更 高的测试速度。最后,所提出的P-MBIST 电路能够由使用者自定义的配置文档而自动生成。
  3. 所属分类:编程文档

    • 发布日期:2012-02-06
    • 文件大小:808.04kb
    • 提供者:buildgates
  1. IP113.rar

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  2. 100M光纤收发器的详细设计方案,该方案使用了IP113芯片,能实现100M速率的光纤信号到RJ45电信号的转换,该方案已经实现并通过了严格的测试,100M Fiber Transceiver detailed design program, which used the IP113 chips, can achieve speeds of 100M optical signal to electrical signal conversion RJ45, the program has been
  3. 所属分类:Project Design

    • 发布日期:2015-06-23
    • 文件大小:93.54kb
    • 提供者:zxs
  1. dac900.rar

    0下载:
  2. 对ad900进行测试,实现其功能能,检测出芯片的好坏,duiad900jingxingceshishixianqigongneng
  3. 所属分类:Communication

    • 发布日期:2017-04-14
    • 文件大小:3.67kb
    • 提供者:wang
  1. hongwaijieshoufashe

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  2. 单片机用定时器产生38K载波,利用TC9012芯片的编码方式进行编码,每次发送一字节数据(学会了一字节,多字节也就会了),并由接收端解码加以显示!发射管用的是一般的红外管,接受用的是集成的红外接受器,通过测试,传输距离可达到5M左右!-Microcontroller timer generates 38K carrier, using TC9012 chip encoding encoding, each time you send one byte of data (a byte Societ
  3. 所属分类:Project Manage

    • 发布日期:2017-04-01
    • 文件大小:2.45kb
    • 提供者:寒江蓝海
  1. 数控直流恒流源的设计与制作

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  2. 摘 要:本系统以直流电流源为核心,AT89S52单片机为主控制器,通过键盘来设置直流电源的输出电流,设置步进等级可达1mA,并可由数码管显示电流设定 值和实际输出电流值。本系统由单片机程控设定数字信号,经过D/A转换器(AD7543)输出模拟量,再经过运算放大器隔离放大,控制输出功率管的基极, 随着功率管基极电压的变化而输出不同的电流。单片机系统还兼顾对恒流源进行实时监控,输出电流经过电流/电压转换后,通过A/D转换芯片,实时把模拟量转 化为数据量,再经单片机分析处理,通过数字量形式的反馈环节,
  3. 所属分类:其它文档

  1. STC12C5A60S2.pdf

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  2. STC12C5A60S2/AD/PWM系列单片机是宏晶科技生产的单时钟/机器周期(1T)的单片机,是高速/低功耗/超强抗干扰的新一代8051单片机,指令代码完全兼容传统8051,但速度快8-12倍。内部集成MAX810专用复位电路,2路PWM,8路高速10位A/D转换(250K/S),针对电机控制,强干扰场合。 1.增强型8051 CPU,1T,单时钟/机器周期,指令代码完全兼容传统8051; 2.工作电压:STC12C5A60S2系列工作电压:5.5V-3.3V(5V单片机)STC12LE5A
  3. 所属分类:编程文档

    • 发布日期:2012-10-18
    • 文件大小:1.88mb
    • 提供者:howard_dai
  1. MSP430_FOR_MAX187

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  2. msp430驱动max187的程序,max187为12位的ADC转换芯片,程序是我自己写的,已经通过测试,并通过软件滤波来提高精度。-msp430 driver max187 process, max187 12-bit ADC conversion chip, the program I wrote it myself, and have been tested, and through software filtering to improve accuracy.
  3. 所属分类:Software Testing

    • 发布日期:2017-04-01
    • 文件大小:226.87kb
    • 提供者:小谭
  1. Fauitem

    0下载:
  2. 基于故障字典的数字芯片测试系统软件Fault Dictionary Based on the number of chip testing system-Fault Dictionary Based on the number of chip testing system
  3. 所属分类:Project Design

    • 发布日期:2017-04-08
    • 文件大小:268.77kb
    • 提供者:佳儿
  1. 信号反弹作用下的3D-SIC过硅通孔的测试结构

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  2. 3d sic三维堆叠集成电路(3D-SIC)主要采用过硅通孔技术来实现模块在垂直方向上的互连,但是硅通孔在制造过程或绑定后阶段都有可能出现失效,导致整个芯片无法正常工作。我们针对绑定后阶段硅通孔,利用信号在导体中传输的不可逆性,在信号接收端增加反弹模块,通过在发送端施加两次不同测试激励,利用触发器和多路选择器将两次输出结果进行异或,来达到测试目的。在4x4硅通孔逻辑块中,硅通孔单元面积是45x45um2,180nm CMOS工艺下,实验结果表明,测试结构面积和测试平均功耗分别减少59.8%和18
  3. 所属分类:技术管理

    • 发布日期:2013-03-07
    • 文件大小:1.16mb
    • 提供者:yang_kael
  1. ISCAS.ZIP

    1下载:
  2. ISCAS benchmark 芯片测试电路(全)-ISCAS benchmark chip test circuit
  3. 所属分类:Communication

    • 发布日期:2018-04-18
    • 文件大小:18.58mb
    • 提供者:chenlin
  1. DA_test

    1下载:
  2. 搭配DAC7724U ADC转换芯片测试程序。可产生方波、正弦波、三角波、锯齿波(With DAC7724U ADC conversion chip test program. Can produce Fang Bo, sine wave, triangle wave)
  3. 所属分类:软件工程

    • 发布日期:2017-12-11
    • 文件大小:655.13kb
    • 提供者:darren_zhang
  1. 电路测试设计

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  2. 通过单片机测试TTL,cmos电子器件种类的电路图(Test the circuit diagram of TTL and CMOS electronic device through single chip microcomputer)
  3. 所属分类:软件设计/软件工程

    • 发布日期:2017-12-18
    • 文件大小:193kb
    • 提供者:edasky
  1. 北斗全球系统民用基础类双频多系统高精度射频基带一体化芯片产品技术要求和测试方法

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  2. 本规范规定了双频多系统高精度射频基带一体化芯片技术要求和测试方法。 本规范适用于双频多系统高精度射频基带一体化芯片的检测、认证,双频多系统高精度射频基带一体化芯片的设计、研发、生产也可以参照使用。
  3. 所属分类:行业发展研究

    • 发布日期:2020-11-07
    • 文件大小:147.79kb
    • 提供者:douxiang
  1. 北斗全球系统民用基础类RNSS射频基带一体化芯片产品技术要求和测试方法

    0下载:
  2. 本规范规定了民用RNSS射频基带一体化芯片技术要求和测试方法。 本规范适用于民用RNSS射频基带一体化芯片的检测、认证,民用RNSS射频基带一体化芯片的设计、研发、生产也可以参照使用。
  3. 所属分类:行业发展研究

    • 发布日期:2020-11-07
    • 文件大小:110.19kb
    • 提供者:douxiang
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