现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度，又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码，提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体，以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器PLA和微程序ＲＯＭ以及采用内嵌RAM结构的指令Cache和寄存器堆的内建自测试设计。仿真结果表明，这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。-modern microproces

pc config test and check. checking memery, cache, core speed, etc......very fast and pricise

3.0缓存技术利用静态化html模板+xml+服务器缓存三项缓存技术，经测试，承受10万条微博时依然快速如飞，这就是3.0最大的亮点之一。-3.0 caching technology using static HTML templates+ XML+ three server cache caching technology, after the test, under article 100000 weibo when still flying fast, this is one of th

MY_TEST MY_TEST\build MY_TEST\build\artifacts MY_TEST\build\artifacts\test MY_TEST\build\logs MY_TEST\build\temp MY_TEST\build\test MY_TEST\build\test\cache MY_TEST\build\test\cache\input.yml MY_TEST\build\test\cache\test_myTest.c