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  1. VLSI-test-technology

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  2. 中国科学院计算所李晓维研究员的VLSI测试与可测试性设计讲义

  3. 所属分类：技术管理

    • 发布日期：2014-01-17
    • 文件大小：3555850
    • 提供者：杨涛

  1. Chapter-6-ATPG

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  2. about adavance self genersated test sequnce in VLSI

  3. 所属分类：software engineering

    • 发布日期：2017-04-08
    • 文件大小：310196
    • 提供者：ashu

  1. test.in

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  2. introduction to vlsi testing

  3. 所属分类：Software Testing

    • 发布日期：2017-12-08
    • 文件大小：475441
    • 提供者：sathya

  1. SAIFI-VLSI-114

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  2. Low-Power Programmable PRPG With Test Compression Capabilities

  3. 所属分类：Development Research

  1. Atalanta-M-2.0

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  2. AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION TOOLBOX FOR VLSI TESTING AND FAULT COVERAGE MEASUREMENT

  3. 所属分类：文章/文档

    • 发布日期：2018-01-03
    • 文件大小：107520
    • 提供者：JAYANTHIRAG
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