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搜索资源列表

  1. BurnIn

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  2. burnIN,自己写的磁盘老化软件,可以自动获取可移动磁盘的盘符,容量等信息,对其进行读写文件,比较文件等操作,用于测试磁盘。-burnIN, wrote to the disk aging software, it will automatically acquire a mobile disk drive. volume of information, which should be read and write a paper comparing operating documents f
  3. 所属分类:文件操作

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:131946
    • 提供者:geer
  1. time

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  2. 电源老化房老化测试定时器 望大家有用
  3. 所属分类:单片机(51,AVR,MSP430等)

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:33995
    • 提供者:陶志学
  1. 3DMARK

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  2. 工厂产线测试软件测试笔记本电脑的老化测试软件,VC编写-a programming
  3. 所属分类:Other systems

    • 发布日期:2017-03-24
    • 文件大小:264315
    • 提供者:kaolafu
  1. TV_power_tester

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  2. MCU控制继电器做的电源老化测试程序.每次测100次-MCU Control Relay aging power to do testing procedures. Each measuring 100 times
  3. 所属分类:SCM

    • 发布日期:2017-04-03
    • 文件大小:46672
    • 提供者:汤文平
  1. Tcontrol

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  2. 应用于各种环境任意长度开关定时应用程序,可用于控制设备老化测试,可变PWM输出等-Used in a variety of environmental applications开关定时arbitrary length can be used to control equipment aging test, a variable, such as PWM output. .
  3. 所属分类:SCM

    • 发布日期:2017-04-05
    • 文件大小:38931
    • 提供者:
  1. swash

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  2. 电源冲激程序,实现对开关电源的老化测试,进行管控。很适合对电子器实行动态老化。-Power impulse process, to achieve the aging of the switching power supply testing, to regulate them. Very suitable for the kind of dynamic aging of electronic devices.
  3. 所属分类:Embeded-SCM Develop

    • 发布日期:2017-04-05
    • 文件大小:3137
    • 提供者:lxg2010
  1. JZCS

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  2. 基于单片机晶振老化测试(包含单片机和cpld间的通信)-Crystal aging test based on single chip (including the communication between the microcontroller and cpld)
  3. 所属分类:SCM

    • 发布日期:2017-04-08
    • 文件大小:44065
    • 提供者:xiong
  1. led-module_test_system

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  2. led显示屏动态和静态屏模组老化系统测试程序,实现动静态屏的横扫,竖扫,灰度控制,模组PCB电子点数显示连接方法,并痛过红外实现开关控制,有注释-led module aging system
  3. 所属分类:SCM

    • 发布日期:2017-04-03
    • 文件大小:8387
    • 提供者:xuguo
  1. test

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  2. 本程序是基于STM32芯片制作的测试老化产品用的程序。-The program is based on the STM32 chip production test aging program.
  3. 所属分类:Project Manage

    • 发布日期:2017-11-26
    • 文件大小:1104
    • 提供者:陈志强
  1. SPDC-TR

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  2. 这是DC/DC电源模块老化测试台的下位机程序,包含上下位机通讯协议。主控为51单片机,C语言,CAN通讯,非常有用。-This is a DC/DC power module aging test bench lower machine procedures, including upper and lower computer communication protocol. Master 51 microcontroller, C language, CAN communication, ve
  3. 所属分类:SCM

    • 发布日期:2017-11-17
    • 文件大小:256804
    • 提供者:xu
  1. HW-1600&2000

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  2. 设备老化,实现往复运动的老化,测试结构元件寿命(the aging of equipment)
  3. 所属分类:单片机开发

    • 发布日期:2017-12-21
    • 文件大小:65536
    • 提供者:那一天
  1. Burn-in test

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  2. 基于LABVIEW编写,程序非常实用且简单,下载后即可使用(Written based on LABVIEW, the program is very practical and simple, after download you can use)
  3. 所属分类:LabView编程

    • 发布日期:2017-12-29
    • 文件大小:39936
    • 提供者:爱咋咋的
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