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液晶芯片st7920
- 液晶模块7920的测试程序，根据本程序可是方便的修改出7920系列芯片的驱动程序！-LCD Module 7920 testing procedures, but the procedures to facilitate the change from the 7920 series chip driver!
ZLG7289的测试程序
- 周立功ZLG7289芯片测试程序
无线传感器网络下CC2420芯片测试程序
- cc2420芯片测试
一种节约面积的可编程存储器内建自测试设计方法
- 随着深亚微米技术不断的发展，在SoC 设计中存储器需求越来越大，芯片的量产需要有效率而又 具有相对的低成本的测试方法。可编程存储器内建自测试方法基于客制化的控制器，提供了一定程度可 靠的弹性以及所需合理的硬件成本。我们在本文提出了一个P-MBIST 设计的硬件分享架构，经由分享共 用的地址产生器与控制器，P-MBIST 电路的面积开销能够大幅减小，利用加入的两级流水线能够达到更 高的测试速度。最后，所提出的P-MBIST 电路能够由使用者自定义的配置文档而自动生成。
Atmega128board
- Atmega128 学习板的详细制作资料，包括原理图的测试程序，还有芯片元件资料-Atmega128 study in detail the production of boards, including schematic diagram of the test procedure, as well as information on the chip components
nandfmd
- nand flash 测试程序，完整版，对应的nand flash 芯片是K9F1208U0b-nand flash test procedure, the full version, corresponding to the nand flash chip K9F1208U0b
高通芯片字库导出检验工程-stm32f4平台
- 通过SPI总线方式，调用字库芯片，再通过RS485显示到上位机上的结果来测试调用功能(Through the SPI bus mode, call the font chip, and then through the RS485 display to the host computer results to test the call function)
芯片手册
- 芯片，英文为Chip；芯片组为Chipset。芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体。“芯片”和“集成电路”这两个词经常混着使用，比如在大家平常讨论话题中，集成电路设计和芯片设计说的是一个意思，芯片行业、集成电路行业、IC行业往往也是一个意思。实际(Chip, chip for chip in Chipset. Chip generally refers to the carrier of the integrated ci
DA_test
- 搭配DAC7724U ADC转换芯片测试程序。可产生方波、正弦波、三角波、锯齿波(With DAC7724U ADC conversion chip test program. Can produce Fang Bo, sine wave, triangle wave)
HT1621 段码屏驱动
- HT1621芯片测试程序,可以依次点亮HT1621寄存器(HT1621 chip test program)
dac7744测试
- 16位DAC芯片DAC7744测试程序，可以测试DAC7744是否是好的，用示波器观察输出波形(16 bit DAC chip DAC7744 test program)
电路测试设计
- 通过单片机测试TTL，cmos电子器件种类的电路图(Test the circuit diagram of TTL and CMOS electronic device through single chip microcomputer)
136-串转并数字芯片测试
- 136-串转并数字芯片测试(136- serial conversion and digital chip test)
137-非门数字芯片测试
- 137-非门数字芯片测试(A digital 137- chip test)
RN7302测试例程
- 编程学习,芯片学习适用于RN7302电能计量芯片等使用和测试(PROGRAMMING learning)
远翔芯片做的呼吸灯
- 远翔芯片做的呼吸灯，已经测试通过，给初学者(The breathing lamp made by the far Xiang chip)
HH350_20180401
- STM32F030芯片测试没问题，自己做开发用的，os_cfg.h删减了大部分功能，只进行任务调度，需要其它功能的可以修改os_cfg.h文件。(STM32F030 chip test is no problem, the development of its own, os_cfg.h cut down the majority of the functions, only task scheduling, the need to other functions can modify the
语音识别协处理芯片开发工具V1.6
- 1、语音识别模块资料 2、主控芯片例程 3、识别词条生成工具-170811 4、测试工程(1, speech recognition module data 2, master chip routines 3. Identify the entry tool -170811 4. Test Engineering)
TEST_HS1101
- 使用STC8芯片的12位精度ADC功能，测试温湿度；湿度芯片采用HS1101湿敏电容，温度使用DS18B20数字传感器，已经编译通过。(The 12-bit ADC function of STC8 chip is used to test temperature and humidity. The humidity chip uses HS1101 humidity-sensitive capacitor, and the temperature uses DS18B20 digital se
基于STM32驱动CS5460A进行电网谐波测试
- 利用STM32C8T6芯片驱动CS5460A进行谐波测试，可以完成5次谐波的测试，较好的保持波形