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搜索资源列表

  1. NRS4000_cpu

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  2. 现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体,以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器PLA和微程序ROM以及采用内嵌RAM结构的指令Cache和寄存器堆的内建自测试设计。仿真结果表明,这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。-modern microproces
  3. 所属分类:行业发展研究

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:40.33kb
    • 提供者:chengp
  1. getPDF

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  2. 本文分析的环境,利用内建自测试( BIST )和自动测试设备( ATE )和提出了封闭形式表达的故障覆盖率的函数数量的BIST的和ATE测试向量。-Analysis and Measurement of Fault Coverage in a Combined ATE and BIST Environment
  3. 所属分类:Editor

    • 发布日期:2017-03-31
    • 文件大小:505.81kb
    • 提供者:被遗忘
  1. fueifu

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  2. 误删除、误格式化、误克隆、分区表丢失、误分区、PQ分区出错、病毒破坏等..OUTLOOK、OUTLOOK EXPRESS、FOXMAIL、LOTUS NOTES等邮件系统Word、Excel、PPT等OFFICE文档修复及各种文件无法正常使用.. office办公文档损坏或乱码,文档闪存CF卡/智能媒体SM卡/MS记忆棒/MMC多媒体卡/SD卡/XD卡/U盘/MP3/MP4,故障类型有:U盘/存储卡等无法识别,无法完成格式化,数据误格式化,误删除,覆盖等... 邮件误删
  3. 所属分类:Disk Tools

    • 发布日期:2017-05-11
    • 文件大小:2.84mb
    • 提供者:栾玉庆
  1. HCCR

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  2. 运用仿生模式识别方法构建提取基本笔段的神经元序列覆盖手写体汉字图像, 分析笔段神经元间的拓扑性质, 将手写体汉字图像转化为具有容错表征方式的种汉字笔划类型组成的几何图形模仿人类汉字形码输人法统计具有冗余容错形状的笔划神经元类型、数量、位置、相合和相交点数量, 建立手写体汉字特征知识的数据结构表对一手写体汉字库中手写体汉字识别进行仿真实验。方法具有较强的“ 认知”手写体汉字的能力-Construction of the use of pattern recognition methods of e
  3. 所属分类:Graph Recognize

    • 发布日期:2017-05-04
    • 文件大小:1.18mb
    • 提供者:郭事业
  1. rage

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  2. 逻辑内建自测试高故障覆盖率设计Logic BIST design of high fault coverage-Logic BIST design of high fault coverage
  3. 所属分类:Mathimatics-Numerical algorithms

    • 发布日期:2017-04-02
    • 文件大小:265.39kb
    • 提供者:vid2008
  1. Bist_codings

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  2. In this paper, we have explained the purpose of FPGA testing. A built-in-self-test (BIST) is one type of testing. This test is performed internally to find any faults within a FPGA chip. This paper explains why testing is important to FPGAs. It also
  3. 所属分类:VHDL-FPGA-Verilog

    • 发布日期:2017-04-07
    • 文件大小:14.28kb
    • 提供者:saravanan
  1. bist(1)

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  2. In this paper, we have explained the purpose of FPGA testing. A built-in-self-test (BIST) is one type of testing. This test is performed internally to find any faults within a FPGA chip. This paper explains why testing is important to FPGAs. It also
  3. 所属分类:VHDL-FPGA-Verilog

    • 发布日期:2017-04-01
    • 文件大小:3.07kb
    • 提供者:saravanan
  1. BIST

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  2. IT MAY USEFUL..BIST project is very useful.bist tpg for low power dissipation and hight fault coverage
  3. 所属分类:software engineering

    • 发布日期:2017-05-09
    • 文件大小:1.64mb
    • 提供者:pavani
  1. A-compact-AES-core-with-on-line-error-detection-f

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  2. This paper presents a compact, low-cost, on-line error-detection architecture for a 32-bit hardware implementation of the AES. The implemented AES is specially designed for FPGA-based embedded applications, since it is tuned to specific FPGA logi
  3. 所属分类:Other systems

    • 发布日期:2017-05-03
    • 文件大小:918.04kb
    • 提供者:ANU MOHAN
  1. Hokilly_bsfzjxc

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  2. 主要功能及优势: ▲1、基于B/S架构,通过本地电脑、局域网、互联网皆可使用,使得店铺的管理与业务不受地域限制,可无限范围覆盖; ▲2、客户端(即各门店)无需安装专用软件,使用浏览器即可实现异地、实时业务办理,销售;免除故障之忧,让您随时随地了解经营状况,做出正确的经营决策; ▲3、软件实施成本低,只需要几百元虚拟空间就可以实施红金羚B/S服装进销存管理系统; ▲4、进货、销售、库存盘点、商品调拨、进货退货、销售退货、日销售明细、资金流水帐等单据一应俱全。可以自由设定单据附加描述
  3. 所属分类:WEB(ASP,PHP,...)

    • 发布日期:2017-05-09
    • 文件大小:1.86mb
    • 提供者:xxpudn88
  1. Atalanta-M-2.0

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  2. AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION TOOLBOX FOR VLSI TESTING AND FAULT COVERAGE MEASUREMENT
  3. 所属分类:文章/文档

    • 发布日期:2018-01-03
    • 文件大小:105kb
    • 提供者:JAYANTHIRAG
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