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ARMJTAG
- JTAG+调试原理，中文版。这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。-JTAG+ debug principle, the Chinese version. This article introduces the basic principles of ARM JTAG debug. Basic elem