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  1. ARM.JTAG.Debugging.principle

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  2. 这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。-This article introduces the basic principles of ARM JTAG debug. The basic content includes TAP (TEST ACCESS PORT) and BOUNDARY-SCAN
  3. 所属分类:ARM-PowerPC-ColdFire-MIPS

    • 发布日期:2017-04-02
    • 文件大小:463058
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