文件名称:BQ20Z75TestProgram
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- 上传时间:2012-11-16
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BQ20Z75电脑电池PCB板测试程序,请不要随意更改“写DATA FLASH”及较验命令之间的延时;请仔细较对DATA FASH 数组,错误的数据可能令控制芯片BQ20Z75损坏;写DATA FLASH 时不能断电,否则可能令控制芯片BQ20Z75损坏;-BQ20Z75 computer battery PCB board test program, please do not arbitrarily change the " write DATA FLASH" and more testing the delay between commands DATA FASH carefully compared with the array, the wrong data may result in damage control chip BQ20Z75 to write when you can not DATA FLASH power, or may result in damage control chip BQ20Z75
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