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文件名称:Chip-Test

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利用VB程序,通过串口编程实现电感\电容元器件的测量-Using VB program, through the serial programming inductance \ capacitance measurement components
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)

下载文件列表

Chip Test\AddType.frm
Chip Test\AddValue.ini
Chip Test\CAN.CTL
Chip Test\CanBus2.bas
Chip Test\Check.frm
Chip Test\Check.frx
Chip Test\ChipTest.exe
Chip Test\CnFlag.bmp
Chip Test\DataBase\TestPara.mdb
Chip Test\DataBase\复件 TestPara.mdb
Chip Test\Driver.bas
Chip Test\EditType.frm
Chip Test\EnFlag.bmp
Chip Test\FLEXCOMM.CTL
Chip Test\Fluke.ctl
Chip Test\Fluke.log
Chip Test\Form1.frm
Chip Test\FrmDebug.frm
Chip Test\frmLogin.frm
Chip Test\frmMain.frm
Chip Test\frmMain.frx
Chip Test\frmMain.log
Chip Test\frmStart.frm
Chip Test\frmStart.frx
Chip Test\Hard.dll
Chip Test\HMCDiagnose.ctl
Chip Test\HMCDiagnose.log
Chip Test\ICON\CONTI.JPG
Chip Test\ICON\Conti_Logo.bmp
Chip Test\ICON\Fail.ico
Chip Test\ICON\OK.ICO
Chip Test\ICON\Run.ico
Chip Test\ICON\siemensVDOclock.bmp
Chip Test\ICON\siemensVDOsm.bmp
Chip Test\ICON\SNOW.ICO
Chip Test\ICON\Thumbs.db
Chip Test\InsulateR.ctl
Chip Test\InsulateR.log
Chip Test\LCR.BAS
Chip Test\MainModel.bas
Chip Test\MSSCCPRJ.SCC
Chip Test\N2S01076.ICO
Chip Test\ParaSet.frm
Chip Test\Pcm3724b.ctl
Chip Test\Pcm3725b.ctl
Chip Test\Pcm536.ctl
Chip Test\Pcomm.bas
Chip Test\plot.log
Chip Test\Realy.ctl
Chip Test\RWINI.BAS
Chip Test\Timer.bas
Chip Test\工程1.vbp
Chip Test\工程1.vbw
Chip Test\工程2.vbw
Chip Test\快捷方式 到 FrmDebug.lnk

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