文件名称:差值与下采样
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- 上传时间:2008-12-09
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针对常用的图像下采样方法无法满足不同应用需要的问题,提出下采样和插值在实现技术上具有同一性的特点,下采样可以采用插值的大量先进技术。将下采样与插值均看作是对邻域未知像素的预测,建立了统一的像素预测模型。实验结果验证了该同一性的思想,并表明与常用的下采样方法相比,在具有保持特征、保护边缘、维持平滑等特性的基础上,能够使下采样后的图像保持更多的信息,从而为下采样在不同应用中的实现提供了更多可选择的方法。
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