文件名称:ARM_JTAG_debug
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所属分类：
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- 上传时间：2012-11-16
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文件大小：15.96kb
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主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS
PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细
介绍了的JTAG调试原理。-ARM JTAG debugger introduces the basic principles. Basic elements include TAP (TEST ACCESS PORT) and BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE introduction On this basis, the combination of ARM7TDMI detailed principles of the JTAG debug.
PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细
介绍了的JTAG调试原理。-ARM JTAG debugger introduces the basic principles. Basic elements include TAP (TEST ACCESS PORT) and BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE introduction On this basis, the combination of ARM7TDMI detailed principles of the JTAG debug.
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ARM JTAG 调试原理.txt
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