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搜索资源列表

  1. wbspec_b3

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  2. soc中ip核集成时所采用的一种片上总线,开发的,为opencores所采用,wishbone片上总线指南-were integrated ip nuclear adopted by an on-chip bus, development, for opencores using the on-chip bus wishbone Guide
  3. 所属分类:开发工具

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:767.73kb
    • 提供者:钱丰勇
  1. MBe

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  2. microblaze.pdf 介绍soc的一个入门教程-microblaze.pdf soc introduced a portal Guide
  3. 所属分类:开发工具

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:1.3mb
    • 提供者:贺奇超
  1. 111qianrushi

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  2. 经典的嵌入式论文: ARM LINUX在EP7312上的移植; ARM核SOC EP7312及基于EP7312控显系统的设计
  3. 所属分类:开发工具

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:856.59kb
    • 提供者:saf
  1. SoC

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  2. SoC Design Flow and Tools
  3. 所属分类:开发工具

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:490.82kb
    • 提供者:lurb
  1. Terawins_T302B

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  2. TERAWINS T302B数码相框方案,T302B是一多功能合一、高集成度、高性价比的数码相框(DPF)SoC解决方案。
  3. 所属分类:开发工具

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:475.66kb
    • 提供者:blovemoon
  1. ElectronicTesting

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  2. 数字存储器和混合信号超大规模集成电路 本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号VLSI系统的测试和可测试性设计。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践,结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。全书共分三个部分。第一部分是测试基础,介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法,详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模块的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计,包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测
  3. 所属分类:开发工具

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:31.63mb
    • 提供者:soctest
  1. DFT_BIST_for_SOC

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  2. 用于SoC设计的DFT和BIST,讲解了在SOC设计中需要考虑的可测性设计问题
  3. 所属分类:开发工具

    • 发布日期:2008-10-13
    • 文件大小:93.13kb
    • 提供者:godname
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