针对常用的图像下采样方法无法满足不同应用需要的问题，提出下采样和插值在实现技术上具有同一性的特点，下采样可以采用插值的大量先进技术。将下采样与插值均看作是对邻域未知像素的预测，建立了统一的像素预测模型。实验结果验证了该同一性的思想，并表明与常用的下采样方法相比，在具有保持特征、保护边缘、维持平滑等特性的基础上，能够使下采样后的图像保持更多的信息，从而为下采样在不同应用中的实现提供了更多可选择的方法。

研究了线阵CCD 在动态测量中的整体图像处理方法，包括杂散点剔除、图像平滑、边缘识别等方法。提出的整体图像的样条插值方法。-CCD linear array of a dynamic measurement of the overall image processing method comprising removing spurious points, image smoothing, edge detection and other methods.