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NRS4000_cpu
- 现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度，又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码，提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体，以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器PLA和微程序ＲＯＭ以及采用内嵌RAM结构的指令Cache和寄存器堆的内建自测试设计。仿真结果表明，这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。-modern microproces
JTAGrep
- OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTA
Jtag
- jtag边界扫描的经典书籍，内容很详细。是pcb设计人员、芯片设计人员、dft人员必修的内容之一。-Jtag Boundary-Scan Test- A Practical Approach
ARM_JTAG_debug
- 主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细 介绍了的JTAG调试原理。-ARM JTAG debugger introduces the basic principles. Basic elements include TAP (TEST ACCESS PORT) and BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE in
ARMJTAG
- JTAG+调试原理，中文版。这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。-JTAG+ debug principle, the Chinese version. This article introduces the basic principles of ARM JTAG debug. Basic elem
Mixed-Boundelopment
- 数模混合边界扫描技术的研究现状与进展Mixed-Boundary-Scan Technology Research and Development-Mixed-Boundary-Scan Technology Research and Development
Advanced_Trace32_Features
- 先进的trace32特性: 如果您已经对Lauterbach工具比较熟悉, 但是您仍然觉得有些问题,你无法通过Lauterbach工具解决, 不妨可以了解一下该文档中提到的功能。例如: 协议分析, 边界扫描等。-Advanced trace32 features: If you have Lauterbach tools are more familiar with, but you still feel a little problem, you can not be resolved by